ВАНТ №3 2003

Д.Г. Малыхин¹, Г.П. Ковтун¹, А.И. Стукалов², Т.П. Черняева², В.М. Грицина²
ИФТТМТ¹, НТК ЯТЦ² ННЦ ХФТИ, г. Харьков

Разработан новый подход к классическому методу аппроксимаций, применяемому при рентгенографическом определении субструктурных характеристик поликристаллических материалов – размеров областей когерентного рассеяния (ОКР) и микроискажений кристаллической решётки. Предложен графический метод разделения эффектов дифракции на ОКР и микроискажениях. Исследована зависимость субструктурных характеристик материала труб (Zr-2.5%Nb и Zr-1.0%Nb) реакторного назначения от видов обработки.
УДК 621.039.53:543.442.3

Д.Г. Малихін, Г.П. Ковтун, А.І. Стукалов, Т.П. Черняєва, В.М. Гріцина

Розроблено новий підхід до класичного методу апроксимацій, застосовуваному при рентгенографічному визначенні субструктурних характеристик полікристалічних матеріалів – розмірів областей когерентного розсіювання (ОКР) і мікроскривлень кристалічної гратки. Запропоновано графічний метод поділу ефектів дифракції на ОКР та мікроскривленнях. Досліджувано залежність субструктурних характеристик матеріалу труб – Zr-2.5%Nb і Zr-1.0%Nb – реакторного призначення від видів обробки.

D.G. Malykhin, G.P. Kovtun, A.I. Stucalov, T.P. Chernjaeva, V.M. Grizina

The new approach to a classic method of approximatings applied at X-ray definition of the substructural characteristics of polycrystallic materials - of the particles sizes and microstrains of a crystalline grating is designed. The graphic method of separation of difraction effects on particles sizes and microstrains is proposed. The dependence of the substructural characteristics of reactor tubes materials from aspects of treating is investigated.