<HTML><HEAD><TITLE>АННОТАЦИИ
</TITLE></HEAD>
<BODY LINK=#000080 ALINK=#483D8B VLINK=#000000>
	<TABLE ALIGN=CENTER CELLSPACING=1 CELLPADDING=5 BORDER=10 BACKGROUND="../images/006.jpg" BGCOLOR=#D8BFD8 WIDTH=80% >
	<TR  ALIGN=CENTER CELLSPACING=0>
<TD COLSPAN=2><H2>ВАНТ №4 2004</H2></TD>
<TR><TD  BGCOLOR=#f5f5f5 ALIGN=CENTER WIDTH=50% HEIGHT=15>
<A HREF="../CONTENTS/CONTENTS_2004_4rus.html#KEY3">СОДЕРЖАНИЕ</A></TD>
<TD BGCOLOR=#f5f5f5 ALIGN=CENTER WIDTH=50% HEIGHT=15><A HREF="../ARTICLE/VANT_2004_4/article_2004_4_76.pdf">СТАТЬЯ</A></TD></TR>
<TR><TD COLSPAN=2><CENTER><H4><EM>
DIFFRACTION ON A POLYCRYSTAL FOR INVESTIGATIONS AND DIAGNOSTICS OF X-RAY RADIATION OF RELATIVISTIC PARTICLES 
IN A FORWARD DIRECTION</EM></H4></CENTER><P>
A.V. Shchagin<BR>
Kharkov Institute of Physics and Technology, Kharkov 61108, Ukraine;<BR>
E-mail: shchagin@kipt.kharkov.ua</P><BR><P>
It is shown that the diffraction on a polycrystal can be used for investigation and diagnostics of X-ray radiation emitted in a forward direction by relativistic charged particles moving in crystalline or other targets or fields. Methods for measuring radiation spectral density, divergence, and linear polarization at any requisite energy from a few units to tens of keV are proposed. The explanation for the origination of experimentally observed and earlier unidentified spectral peaks as a result of Bragg diffraction on a polycrystal is proposed. The experiment for verification of the explanation is suggested.
</P></TD></TR>
<TR><TD COLSPAN=2><CENTER><H4><EM>
ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ДИФРАКЦИИ НА ПОЛИКРИСТАЛЛЕ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЙ И ДИАГНОСТИКИ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ РЕЛЯТИВИСТСКИХ ЧАСТИЦ В НАПРАВЛЕНИИ ВПЕРЕД</EM></H4></CENTER><P>
А.В. Щагин</P><BR><P>
В работе показано, что дифракция на поликристалле может быть использована для исследования и диагностики рентгеновского излучения, которое испускают в направлении вперед релятивистские заряженные частицы, движущиеся в кристаллических или других мишенях и полях. Предложены методы для измерения спектральной плотности, расходимости и линейной поляризации излучения при любой желаемой энергии от нескольких единиц до десятков килоэлектронвольт. Предложено объяснение происхождения наблюдавшихся в эксперименте и ранее не идентифицированных спектральных пиков как результата дифракции Брэгга на поликристалле. Предлагается эксперимент для проверки этого объяснения.</P></TD></TR>
<TR><TD COLSPAN=2><CENTER><H4><EM>
ВИКОРИСТАННЯ ДИФРАКЦІЇ НА ПОЛІКРИСТАЛІ ДЛЯ ДОСЛІДЖЕНЬ І ДІАГНОСТИКИ РЕНТГЕНІВСЬКОГО ВИПРОМІНЮВАННЯ РЕЛЯТИВІСТСЬКИХ ЧАСТОК У НАПРЯМКУ ВПЕРЕД</EM></H4></CENTER><P>
O.В. Щагін</P><BR><P>
У роботі показано, що дифракція на полікристалі може бути використана для дослідження і діагностики рентгенівського випромінювання, що випускають у напрямку вперед релятивістські заряджені частки, що рухаються в кристалічних або інших мішенях і полях. Запропоновано методи для виміру спектральної густини, розбіжності і  лінійної поляризації випромінювання при будь-якій бажаній енергії від декількох одиниць до десятків кілоелектронвольт. Запропоновано пояснення походження спектральних піків, що спостерігалися у експерименті і раніше не ідентифікованих, як результату дифракції Брегга на полікристалі. Про-понується експеримент для перевірки цього пояснення.
</P></TD></TR>
</TABLE></BODY></HTML>