<HTML><HEAD><TITLE>АННОТАЦИИ
</TITLE></HEAD>
<BODY LINK=#000080 ALINK=#483D8B VLINK=#000000>
	<TABLE ALIGN=CENTER CELLSPACING=1 CELLPADDING=5 BORDER=10 BACKGROUND="../images/006.jpg" BGCOLOR=#D8BFD8 WIDTH=80% >
	<TR  ALIGN=CENTER CELLSPACING=0>
<TD COLSPAN=3><H2>ВАНТ №5 2004</H2></TD>

<TR> <TD BGCOLOR=#f5f5f5 ALIGN=CENTER WIDTH=33% HEIGHT=15>
<A HREF="../CONTENTS/CONTENTS_2004_5.html#KEY3"TITLE="АНГЛИЙСКАЯ ВЕРСИЯ">CONTENTS</A></TD>
<TD  BGCOLOR=#f5f5f5 ALIGN=CENTER WIDTH=33% HEIGHT=15>
<A HREF="../CONTENTS/CONTENTS_2004_5rus.html#KEY3" TITLE="РУССКАЯ ВЕРСИЯ">СОДЕРЖАНИЕ</A></TD>

<TD BGCOLOR=#f5f5f5 ALIGN=CENTER WIDTH=33% HEIGHT=15>
<A HREF="../ARTICLE/VANT_2004_5/article_2004_5_108.pdf">СТАТЬЯ</A></TD></TR>
<TR><TD COLSPAN=3>
<CENTER><H4><EM>
FORMULATION OF CRITERION FUNCTIONAL AND SET OF CONSTRAINTS IN PROBLEMS OF PHYSICAL SETTINGS DESIGNING 
</EM></H4></CENTER><P>
I.M. Prokhorets, S.I. Prokhorets, M.A. Khazhmuradov <br>
National Science Center “Kharkov Institute of Physics and Technology” KIPT, Kharkov, Ukraine <br>
e-mail: khazhm@kipt.kharkov.ua, iprokhorets@kipt.kharkov.ua 
</P><BR><P>
Characteristics of semiconductor spectrometer and neutronography setting were investigated using system analysis methods.<br>
PACS: 61.20ja
</P></TD></TR>

<TR><TD COLSPAN=3>
<CENTER><H4><EM>
ФОРМУЛИРОВКА ФУНКЦИИ ЦЕЛИ И СИСТЕМ ОГРАНИЧЕНИЙ В ЗАДАЧАХ ПРОЕКТИРОВАНИЯ ФИЗИЧЕСКИХ УСТАНОВОК
</EM></H4></CENTER><P>
И.М. Прохорец, С.И. Прохорец, М.А. Хажмурадов 
</P><BR><P>
Рассмотрено влияние параметров полупроводникового спектрометра на основе CdZnTe на энергетическое разрешение и влияние параметров системы формирования пучка на поток нейтронов для нейтронографической установки.
</P></TD></TR>

<TR><TD COLSPAN=3><CENTER><H4><EM>
ФОРМУЛЮВАННЯ ФУНКЦІЇ ЦІЛІ ТА СИСТЕМ ОБМЕЖЕНЬ В ЗАДАЧАХ ПРОЕКТУВАННЯ ФІЗИЧНИХ УСТАНОВОК
</EM></H4></CENTER><P>
І.М. Прохорець, С.І. Прохорець, М.А. Хажмурадов 
</P><BR><P>
Розглянуто вплив параметрів напівпровідникового спектрометру з CdZnTe на енергетичну роздільність та вплив параметрів системи формування пучку на потік нейтронів для нейтронографічного пристрою.
</P></TD></TR>
</TABLE></BODY></HTML>