ВАНТ №5 2005

Проведен анализ существующих экспериментальных и теоретических данных и предложена простая аналитическая формула для расчета профиля поглощенной энергии в толстых мишенях, облучаемых элек-тронами мэвных энергий. Показано, что эффект накопления дозы существенно влияет на профиль погло-щенной энергии в толстых мишенях. Выполнены измерения профиля распределения запасенной энергии в кристаллических пластинках NaCl с толщиной 0.2…0.8 мм, облученных электронами с энергией 0.5 МэВ, методом дифференциальной сканирующей калориметрии по скрытой теплоте плавления радиационно-индуцированных выделений натрия.

Зроблено аналіз експериментальних та теоретичних даних що існують та ї запропоновано проста аналітична форму-ла для розрахунку профілю поглиненої енергії в товстих мішенях, що опромінюються електронами мевних енергій. По-казано, що ефект накопичування дози істотно впливає на профіль поглиненої енергії в товстих мішенях. Впроваджені вимірювання профілю розподілу запасеної енергії в кристалічної пластинці NaCl товщиною 0.2...0.8 мм, опроміненої електронами з енергією 0.5 МеВ, методом диференціальної сканіруючей калориметрії по скритої теплоті плавлення ра-діаційно-індукованих виділений натрію.

The analysis of experimental and theoretical results was done, and a simple analytical formula for the calculation of the ab-sorbed dose profile in a thick target under electron irradiation of MeV-energy was proposed. The build-up phenomenon is shown to impact substantially on the energy deposition profile in thick samples. The stored energy profile in NaCl platelets of 0.2…0.8 mm thickness after 0.5 MeV electron irradiation has been determined by measuring the melting latent heat of radiation induced sodium precipitates with differential scanning calorimetry method.