ВАНТ №5 2005

СОДЕРЖАНИЕ СТАТЬЯ

РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ СИЛИЦИРОВАННЫХ МАТЕРИАЛОВ НА ПИРОУГЛЕРОДНОЙ СВЯЗКЕ И НА ОСНОВЕ ГРАФИТА МАРКИ ЭГ–0


В.А. Гурин, И.В. Гурин, Г.П. Ковтун, Д.Г. Малыхин, А.Н. Буколов
Национальный научный центр «Харьковский физико-технический институт», г. Харьков, Украина


Применительно к исследованию силицированных графитовых материалов разработано методологическое дополнение к количественному анализу бинарного фазового состава материалов по интенсивностям линий рентгеновских отражений. Учитываются различия в коэффициентах поглощения рентгеновских лучей фазовыми составляющими материала при различной степени гетерогенности. Применён вероятностный подход. Параметр степени смешения фаз представлен в виде удельной площади межфазных границ. Проведены количественные рентгеноструктурные исследования фазового состава силицированных материалов на основе связанных пироуглеродом углеродных тканей и порошков графита. В исследованных материалах обнаружен двухфазный состав: C–SiC и SiC–Si. Отмечена корреляция фазового состава материалов с кажущейся плотностью исходной углеродной основы. Подтверждается возможность практического достижения максимальной степени силицирования материалов.

РЕНТГЕНОСТРУКТУРНІ ДОСЛІДЖЕННЯ СИЛІЦІЙОВАНИХ МАТЕРІАЛІВ НА ПІРОВУГЛЕЦЕВІЙ ЗВ’ЯЗЦІ І НА ОСНОВІ ГРАФІТУ МАРКИ ЭГ-0


В.А. Гурін, І.В. Гурін, Г.П. Ковтун, Д.Г. Малихін, О.М. Буколов


Щодо досліджень силіційованих вуглецевих матеріалів розроблено методологічне доповнення до кількісного аналізу бінарного фазового складу матеріалів по вимірам інтенсивностей ліній рентгенівської дифракції. Враховуються відрізнення у коефіцієнтах поглинання рентгенівських променів фазовими складовими матеріалу при різному ступені змішання фаз. Застосовано імовірнісний підхід. Параметр ступеню змішання фаз представлено у вигляді питомої площини міжфазних границь. Проведено кількісні рентгеноструктурні дослідження фазового складу силіційованих матеріалів на основі зв’язаних піровуглецем вуглецевих тканин і порошків графіту. У досліджених матеріалах виявлено бінарний фазовий склад: C–SiC та SiC–Si. Відзначена кореляція фазового складу матеріалів з гаданою густиною первісної вуглецевої основи і підтверджується можливість практичного досягнення високого ступеню силіційованості матеріалів.

X-RAY RESEARCHES GF SILICONIZED MATERIALS ON PYROCARBON SHEAF AND ON THE BASIS OF GRAPHITE OF MARK ЭГ-0


V.A. Gurin, I.V. Gurin, G.P. Kovtun, D.G. Malykhin, A.N. Bucolov


A methodological addition to a quantitative analysis of binary phase structure of materials on measurements of X-Ray lines intensities worked out conformably to research of siliconized graphitic materials. Distinctions in X-rays absorption factors of phase components at a various degree of phases mixture taken in account. An apparatus of the probability theory is applied. A parameter of mixture degree of phases is submitted as a specific area size of interphase. Quantitative X-ray researches of a phase structure of siliconized materials are carried out on the basis of carbon fabrics and graphitic powders; both were sheafed by pyro-carbon. In examined samples structures C–SiC and SiC–Si were obtained. The correlation of the phase structure of materials with the apparent density of the initial carbon basis is seen. The opportunity of a practical obtaining of materials with the host degree of their siliconizing is confirmed.