ВАНТ №5 2005

Применительно к исследованию силицированных графитовых материалов разработано методологическое дополнение к количественному анализу бинарного фазового состава материалов по интенсивностям линий рентгеновских отражений. Учитываются различия в коэффициентах поглощения рентгеновских лучей фазовыми составляющими материала при различной степени гетерогенности. Применён вероятностный подход. Параметр степени смешения фаз представлен в виде удельной площади межфазных границ. Проведены количественные рентгеноструктурные исследования фазового состава силицированных материалов на основе связанных пироуглеродом углеродных тканей и порошков графита. В исследованных материалах обнаружен двухфазный состав: C–SiC и SiC–Si. Отмечена корреляция фазового состава материалов с кажущейся плотностью исходной углеродной основы. Подтверждается возможность практического достижения максимальной степени силицирования материалов.

Щодо досліджень силіційованих вуглецевих матеріалів розроблено методологічне доповнення до кількісного аналізу бінарного фазового складу матеріалів по вимірам інтенсивностей ліній рентгенівської дифракції. Враховуються відрізнення у коефіцієнтах поглинання рентгенівських променів фазовими складовими матеріалу при різному ступені змішання фаз. Застосовано імовірнісний підхід. Параметр ступеню змішання фаз представлено у вигляді питомої площини міжфазних границь. Проведено кількісні рентгеноструктурні дослідження фазового складу силіційованих матеріалів на основі зв’язаних піровуглецем вуглецевих тканин і порошків графіту. У досліджених матеріалах виявлено бінарний фазовий склад: C–SiC та SiC–Si. Відзначена кореляція фазового складу матеріалів з гаданою густиною первісної вуглецевої основи і підтверджується можливість практичного досягнення високого ступеню силіційованості матеріалів.

A methodological addition to a quantitative analysis of binary phase structure of materials on measurements of X-Ray lines intensities worked out conformably to research of siliconized graphitic materials. Distinctions in X-rays absorption factors of phase components at a various degree of phases mixture taken in account. An apparatus of the probability theory is applied. A parameter of mixture degree of phases is submitted as a specific area size of interphase. Quantitative X-ray researches of a phase structure of siliconized materials are carried out on the basis of carbon fabrics and graphitic powders; both were sheafed by pyro-carbon. In examined samples structures C–SiC and SiC–Si were obtained. The correlation of the phase structure of materials with the apparent density of the initial carbon basis is seen. The opportunity of a practical obtaining of materials with the host degree of their siliconizing is confirmed.